Fokussierter Ionenstrahl - Feldelektronenmikroskop (FIB-FESEM)

Messmethoden: SEM, STEM, EBSD, EDX

Firma: FEI
Modell: Nanolab 600

Verantwortlich:
Rene Gustus
Telefon: +49 5323 72 3346
E-Mail: rene.gustus@tu-clausthal.de

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