Laborgeräte

Hier finden sie eine Auflistung aller verfügbaren Geräte in unserem Institut und deren Einsatzzweck in der Forschung.

Thermische Methoden

Mikroskopheiztisch

Mikroskopheiztisch

Heiztisch bis 1500 °C, Beobachtung des Temperaturverhaltens im Mikroskop; Kristallisation, Schmelzen, Probenmasse max. 150 mg

Firma: Linkam
Modell: TS1500

Erhitzungsmikroskop

Erhitzungsmikroskop

Aufschmelzverhalten, Kontaktwinkel, Viskositätsfixpunkte

Firma: Hesse Instruments, Osterode

Erhitzungsmikroskop

Erhitzungsmikroskop

Aufschmelzverhalten, Kontaktwinkel, Viskositätsfixpunkte

Firma: Leitz

Optisches Dilatometer

Optisches Dilatometer

Thermischer Ausdehnungskoeffizient, Glastransformationstemperatur

Firma: TA Instruments
Modell: DIL 806

Laser Flash Apparatur (LFA)

Laser Flash Apparatur (LFA)

Bestimmung der Wärme- und Temperaturleitfähigkeit, inerte Atmosphäre, bis 1500 °C

Firma: Netzsch Modell: LFA 427

Dynamische Differenzkalorimetrie (DDK (DSC))

Dynamische Differenzkalorimetrie (DDK (DSC))

Thermische Analyse 30-1400 °C, cp

Firma: Netzsch
Modell: DSC 404 F3 Pegasus, DSC 404 cell

Thermogravimetrische Analyse mit Differentialkalorimetrie (TGA/DSC)

Thermogravimetrische Analyse mit Differentialkalorimetrie (TGA/DSC)

Gravimetrische Analyse mit simultaner Differentialthermoanalyse

Firma: Mettler Toledo, Modell: TGA/DSC 3+

Chip-Kalorimetrie (FDSC)

Chip-Kalorimetrie (FDSC)

Thermische Analyse mit sehr hohen Heiz- und Kühlraten von 0.1 bis 40000 K/s

Firma: Mettler Toledo Modell: Flash DSC 2+

Simultane thermische Analyse - Massenspektrometrie (STA-MS)

Simultane thermische Analyse - Massenspektrometrie (STA-MS)

Differentialthermoanalyse, Thermogravimetrie und Erfassung der entweichenden Gase

Firma: Netzsch

Drehrohrofen

Drehrohrofen

Max. 1200 °C; 1 bis 11 Umdrehungen pro Minute

Klimakammer

Klimakammer

Temperaturen von -40 °C bis 150 °C bei 30% bis 95% r.F.

Firma: ESPEC
Modell: SH-241

Isothermal Kalorimeter

Isothermal Kalorimeter

Messung der Hydratationsenergie, Lösungen und Suspensionen, zwischen 5 bis 90 °C

Firma: TA Instruments
Modell: TAM Air

Viskosimetrische Methoden

Rotationsviskosimeter

Rotationsviskosimeter

Scherviskosität

Firma: Haake
Modell: RV 20

Parallel-Platten-Viskosimeter

Parallel-Platten-Viskosimeter

Viskosität, Parallel-Plattengeometrie bzw. Kugelindentor

Firma: Bähr Thermoanalyse
Modell: VIS 404

Balkenbiegeviskosimeter

Balkenbiegeviskosimeter

Viskosität, Balkenbiegegeometrie

Firma: Bähr Thermoanalyse
Modell: VIS 401

Rheometer

Rheometer

Viskosität

Firma: Thermo Scientific
Modell:  HAAKE MARS III

Mikroskopie und Spektroskopie

Polarimeter

Polarimeter

Messung der Spannungsdoppelbrechung an transparenten Materialien (linear/zirkular polarisiertes Licht)

Firma: Ilis GmbH
Modell: StrainScope flex convertible

Spektrophotometer, Farbmessgerät

Spektrophotometer, Farbmessgerät

Farbortbestimmung in verschiedenen Farbräumen

Firma: ColorLite
Modell: sph850

Infrarotspektrometer (FTIR)

Infrarotspektrometer (FTIR)

Transmission, Reflexion, 1 - 25 µm

Firma: Bruker
Modell: VERTEX 70

UV/VIS-Spektroskopie

UV/VIS-Spektroskopie

Transmission, Reflexion, 190 - 1100 nm

Firma: Analytik Jena
Modell: SPECORD 200

Sekundärneutralteilchen Massenspektrometer (SNMS)

Sekundärneutralteilchen Massenspektrometer (SNMS)

Atomkonzentrationsprofile, nm-Tiefenauflösung

Firma: SPECS
Modell: INA-X

Digitales Laserscanning Mikroskop

Digitales Laserscanning Mikroskop

3D-Ansicht, Topografie, Oberflächenrauheit, Vermessung

Firma: Keyence Modell: VK-9710

Digitalmikroskop mit Materialanalyse

Digitalmikroskop mit Materialanalyse

Topografie, 3D-Ansicht, Strukturen, LIBS Analytik (Laser Induced Breakdown Spectroscopy)
Firma: Keyence
Modell: VHX-7000N mit 20-2000x Objektiv und LIBS-Materialanalyse Einheit EA-300

Verantwortlich:
Hansjörg Bornhöft

Rasterelektronenmikroskop (REM (SEM))

Rasterelektronenmikroskop (REM (SEM))

Elektronenmikroskopie mit EDX

Firma: Zeiss
Modell: EVO 50

Lichtmikroskop

Lichtmikroskop

Auflicht und Transmission, Optische Analyse

Firma: Leica, Olympus, Zeiss

Weißlichtinterferometer

Weißlichtinterferometer

Oberflächentopografie, Oberflächenrauheit, 8 mm laterales Sichtfeld

Firma: FRT
Modell: WLI PL

Spektralphotometer

Spektralphotometer

Chemische Analyse von An- und Kationen in wässrigen Lösungen

Firma: Dr. Lange
Modell: CADAS 100

UV/VIS/IR-Spektroskopie

UV/VIS/IR-Spektroskopie

Solare Transmission, Reflexion, 250 - 3000 nm, Integrationskugel

Firma: PerkinElmer
Modell: LAMBDA950

Raman-Spektroskopie

Raman-Spektroskopie

Konfokales Raman-Mikroskop, 532 nm Laser

Firma: WITec
Modell: alpha300R

Physikalische Methoden

Mikroindenter

Mikroindenter

Firma: Zwick/Roell
Modell: zwickiLine Z2.5 Härte-Prüfmaschine (ZHU 2.5)

Profilometer

Profilometer

Oberflächenrauhigkeit, Schichtdicke, Sputtertiefe

Firma: Bruker
Modell: DektakXT Advanced System (DXT-A)

Kontaktwinkelmessgerät

Kontaktwinkelmessgerät

Kontaktwinkelbestimmung auf Oberflächen, Oberflächenspannung

Firma: dataphysics
Modell: OCA 15plus

Glanzmessgerät

Glanzmessgerät

Messung des Glanzwinkels unter 20° 60° 85°, Reflexion der Oberfläche

Firma: BYK Gardner
Modell: micro-TRI-gloss

Laser-Doppler-Vibrometer

Laser-Doppler-Vibrometer

Elastische Konstanten (E-Modul)

Firma: Polytec

Ultraschallmessgerät

Ultraschallmessgerät

Bestimmung der Schallgeschwindigkeit und der elastschen Konstanten

Firma: Krautkramer Branson
Modell: USD 15 S

Laserbeugungs-Partikelgrößenanalyse

Laserbeugungs-Partikelgrößenanalyse

Korngrößenverteilung im Bereich 0,04µm-2000µm

Firma: Coulter
Modell: LS 230

Schwindkegel

Schwindkegel

Längenänderungsverhalten,  Schwindung bzw. Dehnung, Temperatur und Luftfeuchtigkeit

Firma: Schleibinger Testing Systems
Modell: Shrinkage cone

Ultraschallmesszelle für Erstarrung

Ultraschallmesszelle für Erstarrung

Reaktionsverläufe, E-Modul

Firma: UltraTest
Modell: Ultrasonic- Multiplex- Tester IP-8

Edelgaspyknometer / Heliumpyknometer

Edelgaspyknometer / Heliumpyknometer

Dichtebestimmung, Keimdichte

Firma: POROTEC
Modell: Pycnomatic-ATC

Röntgenographische Methoden

Röntgendiffraktometer (RDF (XRD))

Röntgendiffraktometer (RDF (XRD))

Kristallphasen, Tief/Hochtemperaturkammer (-190 bis 1200 °C), dünne Schichten

Firma: Panalytical
Modell: Empyrean

Röntgendiffraktometer (RDF (XRD))

Röntgendiffraktometer (RDF (XRD))

Kristallstruktur

Firma: Panalytical
Modell: Empyrean

Röntgenfluoreszenzspektrometer (RFA (XRF))

Röntgenfluoreszenzspektrometer (RFA (XRF))

Chemische Analysen ab Ordnungszahl 4

Firma: Bruker AXS
Modell: S4 pioneer