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Fokussierter Ionenstrahl - Feldelektronenmikroskop (FIB-FESEM)

Fokussierter Ionenstrahl - Feldelektronenmikroskop

Messmethoden: SEM, STEM, EBSD, EDX

Firma: FEI
Modell: Nanolab 600

Verantwortlicher
Rene Gustus
Telefon: +49-5323-72-3346
E-Mail: rene.gustus@tu-clausthal.de